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HBM、MM测试仪本产品可进行器件级ESD测试,包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。
日本HBM测试仪本产品可进行器件级ESD测试,包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。
日本半导体MM测试仪本产品可进行器件级ESD测试,包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。
日本半导体HBM测试仪本产品可进行器件级ESD测试,包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。
关于我们
经验丰富的员工,团队不断创新
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产品中心
型号:NSX-561LV
型号:NSX-510-A/B
型号:NSX-560CT
型号:NSX-Prowave40/80-A/B
型号:NSX-561/563
型号:NSX-443/453/473
型号:JEM-F200
型号:JSM-IT800
技术文章
EMKU环境测试箱是专门用于模拟湿热交变环境的测试设备,其操作需要特别注意安全性和规范性。在开机前,必须检查设备电源连接是否牢固,接地是否可靠,确保设备处于安全状态。检查加湿水箱水位是否在正常范围内,必须使用纯净水或蒸馏水,避免使用自来水导致水垢堵塞管路。检查箱内是否有异物,确保测试空间清洁。测试样品放置时,需要遵循均匀分布原则,避免样品过于密集影响气流循环。样品与箱壁之间应保持一定距离,一般不小于100mm,确保空气流通顺畅。对于发热样品,需要根据发热量调整放置位置和数量,...
聚焦离子束电镜测试将高能离子束用于材料微纳加工(刻蚀、沉积、切割)与SEM成像结合,可实现截面制备、透射电镜(TEM)薄片加工、电路修补与三维重构。但在加工过程中易出现多种缺陷,影响样品质量与分析准确性,必须针对性优化。一、常见加工缺陷沟槽侧壁倾斜与波纹离子束入射角与束流分布不均,或样品表面不平整,会导致刻蚀沟槽侧壁呈斜坡或出现周期性波纹,影响截面平直度。表面损伤层与再沉积高能离子轰击产生晶格损伤、非晶化或杂质注入;刻蚀产生的碎屑可能再沉积在侧壁或底部,遮蔽结构细节。热...
SEM扫描电镜检测因其高分辨率、大景深和直观的微观形貌呈现能力,成为材料、生物、地质等领域关键的分析工具。但对于初学者而言,从送样到获取可靠图像,每一步都需严谨对待。本文简要梳理SEM检测全流程关键要点。第一步:样品制备——成败在此一举。导电性良好的金属样品可直接观察;但非导电样品(如陶瓷、塑料、生物组织)必须进行表面导电处理,常用方法包括喷金(Au/Pd)、喷碳或使用低真空模式。若忽略此步,将出现严重“荷电效应”——图像漂移、条纹或亮度异常。此外,样品需牢固固定于样品台,避...
ZEISS场发射扫描电镜是材料科学、纳米技术、半导体分析等领域观测微纳结构(如原子排列、纳米颗粒形貌)的核心工具。ZEISS场发射扫描电镜以高分辨率、高稳定性和智能操作著称。但面对复杂的技术参数,选购时掌握以下4点原则,可轻松匹配需求。一、分辨率:分辨率是衡量电镜成像清晰度的关键参数,直接影响能否观察到纳米级细节(如单个原子的排列、纳米线的截面结构)。ZEISS场发射电镜的分辨率通常分为“点分辨率”(理论较小可分辨两点间距)和“实际成像分辨率”(实际样品成像的清晰度)。对于常...
国产环境箱是材料性能测试、产品可靠性验证的核心设备,其测量精度(如温度偏差≤±0.5℃、湿度偏差≤±2%RH)直接影响测试数据的可靠性。对于专业用户而言,掌握几大操作秘籍,能有效提升环境箱的测量精度,让设备发挥更大价值。一、校准先行:环境箱的传感器(温度、湿度、压力等)会随时间漂移或受环境影响产生误差。专家建议每3-6个月使用标准计量设备(如铂电阻温度计、精密露点仪)对箱内参数进行校准,校准点需覆盖常用测试范围(如温度-40℃至85℃、湿度30%R...
LONGPEAK静电放电发生器是模拟静电放电场景、考核电子电气产品抗静电性能的关键设备,广泛用于家电、汽车电子、通信设备等领域的EMC测试。操作中若存在误区,易导致测试数据失真、设备损坏,甚至引发安全隐患。以下梳理4类常见误区及对应避免方法。一、误区一:忽视放电枪校准,直接开展测试部分用户认为“新设备无需校准”,或长期不校准放电枪,直接用其进行测试。LONGPEAK静电放电发生器的放电枪电极易因磨损、污染导致放电电流偏差,若不校准,可能将合格产品误判为不合格,或遗漏真实抗...
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