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反射膜厚仪 -无损膜厚测量方案F20
KLA FilmetricsF20是一款高精度薄膜厚度测量仪,采用光谱反射技术,测量范围覆盖1纳米至3毫米,具备一键操作、非接触测量及多层结构分析能力,广泛应用于半导体、OLED、光伏、生物医学等领域,兼具高精度与易用性。
反射式膜厚测量分析系统 NanoSense
应用领域
NS-20 / NS-20 Pro 桌面式手动膜厚仪
NS-Touch 弯曲表面膜厚仪(手持)
反射透射测量双通道膜厚仪NS-Vista
苏州悉识 NS-OEM系列(膜厚测量套件)
广州德准薄膜测厚仪全自动C1202
产品特性: •薄膜行业厚度测量标准配置,适用于高精度测量,内置测帽调平机构、避免反复设置系数 •全自动测量,避免人为因素干扰,提高精度,数值自动上传电脑保存,可实现测量过程无人值守,减负增效 • 测量精度高,分辨率可达0.1μm • 测量速度快,结果响应时间为0.015s • 大理石台面00级,精度高,质地硬,永不生锈 • 德国Mahr的品质保证,可实现长期高稳定性的测量 • 薄膜行业专用软件Filder 1.0,具有数据管理,用户管理等强大功能 软件特性:Filder 1.0 特别为薄膜行业开发设计 可实时显示记录测量值,并计算Z大值,Z小值,平均值,偏差值等一系列参数 软件自动绘制厚度曲线和偏差图 测量结果可导出至Excel表格 软件具有用户管理功能,可设置不同的人员权限,有效防止误操作和数据的误删除 具有数据管理功能,测量数据及相关产品、人员信息永久保存,便于测量数据的追踪和溯源
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